Microscòpia electrònica d'escombratge
- Termes no preferents
- Microscòpia electrònica de rastreig
- SEM
- Termes genèrics
- Microscòpia electrònica
- Termes específics
- Microscòpia d'efecte túnel
- Microscòpia de força atòmica
- Notes de font
- LEMAC, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Microscòpia electrònica d'escombratge)
- Autoridades BNE, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Microscopía electrónica de barrido)
- LCSH, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Scanning electron microscopy)
- RAMEAU, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Microscopie électronique à balayage)
- Tesaurus
- Matèries
- Microtesaurus
- Química
- Conceptes equivalents en altres esquemes
- Microscòpia electrònica d'escombratge [LEMAC]
- Microscopía electrónica de barrido [BNE/A]
- Microscopie électronique à balayage [RAMEAU]
- Scanning electron microscopy [LCSH]
- Enllaç permanent
- https://vocabularis.crai.ub.edu/thub/concept/thub:981058507439706706
- Format MARC21
-
- LEADER 01279nz a2200289n 4500 001 981058507439706706 005 20210802122755.0 008 031027|||anznnbabn |a ana d 040 $aES-BaUB$bcat$cES-BaUB$fthub 072 7$aTH 54$2thub 150 $aMicroscòpia electrònica d'escombratge 450 $aMicroscòpia electrònica de rastreig 450 $aSEM 550 $wg$aMicroscòpia electrònica 550 $wh$aMicroscòpia de força atòmica 550 $wh$aMicroscòpia d'efecte túnel 670 $aLEMAC, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Microscòpia electrònica d'escombratge) 670 $aAutoridades BNE, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Microscopía electrónica de barrido) 670 $aLCSH, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Scanning electron microscopy) 670 $aRAMEAU, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Microscopie électronique à balayage) 750 7$aMicroscopía electrónica de barrido$2thub//spa 750 7$aScanning electron microscopy$2thub//eng 750 7$aMicroscopie électronique à balayage$2thub//fre 996 $a.a11962847$b27-11-20$c04-06-08$d-$ed$f- 909 $a11$5ES-BaUB 990 $aTHUB Tema$5ES-BaUB 035 $a(ES-BaUB).a11962847
- Terme preferent en altres llengües
- EspañolMicroscopía electrónica de barrido
- EnglishScanning electron microscopy
- FrançaisMicroscopie électronique à balayage