Thesaurus UB (THUB)

Recursos sobre este tema

Descargar como

Microscopía electrónica de barrido

Términos genéricos
Microscopia electrónica
Términos específicos
Microscopía de barrido de efecto túnel
Microscopía de fuerza atómica
Notas de fuente
LEMAC, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Microscòpia electrònica d'escombratge)
Autoridades BNE, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Microscopía electrónica de barrido)
LCSH, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Scanning electron microscopy)
RAMEAU, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Microscopie électronique à balayage)
Tesauro
Materias
Microtesauro
Química
Conceptos equivalentes en otros esquemas
Microscòpia electrònica d'escombratge [LEMAC]
Microscopía electrónica de barrido [BNE/A]
Microscopie électronique à balayage [RAMEAU]
Scanning electron microscopy [LCSH]
Enlace permanente
Formato MARC21
  • LEADER 01279nz a2200289n 4500 001 981058507439706706 005 20210802122755.0 008 031027|||anznnbabn |a ana d 040 $aES-BaUB$bcat$cES-BaUB$fthub 072 7$aTH 54$2thub 150 $aMicroscòpia electrònica d'escombratge 450 $aMicroscòpia electrònica de rastreig 450 $aSEM 550 $wg$aMicroscòpia electrònica 550 $wh$aMicroscòpia de força atòmica 550 $wh$aMicroscòpia d'efecte túnel 670 $aLEMAC, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Microscòpia electrònica d'escombratge) 670 $aAutoridades BNE, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Microscopía electrónica de barrido) 670 $aLCSH, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Scanning electron microscopy) 670 $aRAMEAU, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Microscopie électronique à balayage) 750 7$aMicroscopía electrónica de barrido$2thub//spa 750 7$aScanning electron microscopy$2thub//eng 750 7$aMicroscopie électronique à balayage$2thub//fre 996 $a.a11962847$b27-11-20$c04-06-08$d-$ed$f- 909 $a11$5ES-BaUB 990 $aTHUB Tema$5ES-BaUB 035 $a(ES-BaUB).a11962847
Término preferente en otras lenguas
CatalàMicroscòpia electrònica d'escombratge
EnglishScanning electron microscopy
FrançaisMicroscopie électronique à balayage
+
Fecha de última actualización
17/11/2024