Thesaurus UB (THUB)

Ressources sur ce thème

Télécharger comme

Microscopie électronique à balayage

Termes génériques
Microscopie électronique
Termes spécifiques
Microscopie à force atomique
Microscopie tunnel à balayage
Notes de source
LEMAC, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Microscòpia electrònica d'escombratge)
Autoridades BNE, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Microscopía electrónica de barrido)
LCSH, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Scanning electron microscopy)
RAMEAU, consulta feta el 18 de maig, 2006 (punt d'accés: Microscopie électronique à balayage)
Tesaurus
Matèries
Microtesaurus
Chimie
Concepts équivalents dans d'autres schémas
Microscòpia electrònica d'escombratge [LEMAC]
Microscopía electrónica de barrido [BNE/A]
Microscopie électronique à balayage [RAMEAU]
Scanning electron microscopy [LCSH]
Permalien
Format MARC21
  • LEADER 01279nz a2200289n 4500 001 981058507439706706 005 20210802122755.0 008 031027|||anznnbabn |a ana d 040 $aES-BaUB$bcat$cES-BaUB$fthub 072 7$aTH 54$2thub 150 $aMicroscòpia electrònica d'escombratge 450 $aMicroscòpia electrònica de rastreig 450 $aSEM 550 $wg$aMicroscòpia electrònica 550 $wh$aMicroscòpia de força atòmica 550 $wh$aMicroscòpia d'efecte túnel 670 $aLEMAC, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Microscòpia electrònica d'escombratge) 670 $aAutoridades BNE, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Microscopía electrónica de barrido) 670 $aLCSH, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Scanning electron microscopy) 670 $aRAMEAU, consulta feta el 18 de maig, 2006$b(punt d'accés: Microscopie électronique à balayage) 750 7$aMicroscopía electrónica de barrido$2thub//spa 750 7$aScanning electron microscopy$2thub//eng 750 7$aMicroscopie électronique à balayage$2thub//fre 996 $a.a11962847$b27-11-20$c04-06-08$d-$ed$f- 909 $a11$5ES-BaUB 990 $aTHUB Tema$5ES-BaUB 035 $a(ES-BaUB).a11962847
Terme préférentiel dans d'autres langues
CatalàMicroscòpia electrònica d'escombratge
EspañolMicroscopía electrónica de barrido
EnglishScanning electron microscopy
+
Date de dernière mise à jour
15/12/2024